Zunächst mal gibt es verschiedene Effekte von Strahlung, die üblicherweise auf Bauteilebene getestet werden, teilweise auf Satellitenebene berechnet werden. Nur im Extremfall auch auf Geräte oder Satellitenebene getestet werden.
TID (Total Ionisation Dose) berücksichtigt vereinfacht die beschleunigte Alterung von Bauteilparameter unter Strahlung. Dieser Effekt muss für viele aktive Komponenten, aber auch z.B. Optische Fasern berücksichtigt werden. Nach ESCC (ESA Beschaffungsspezifikation) muss dieser Effekt regelmässig für Bauteile nachgewiesen werden (z.B. für Transistoren die über Jahre hinweg identisch produziert werden).
Zusätzliche wird auf Geräte/Satellitenebene die Tatsächlich zu erwartende Dosis berechnet, da z.B: Geräte an der AUssenseite eine Abschirmung für interne Geräte darstellen. Zusätzlich _kann_ man Bauteile schirmen, aber das kostet Masse, die gestartet werden muss
SEE (Single Event Effekte) kommen zustande wenn hochenergetische Teilchen einen Teil ihrer Energie abgeben.
Die häufigsten dieser Effekte führen nur zu temporärer Funktionsstörung ohne bleibenden Effekt (aber es gibt auch zerstörende Effekte).
Diese hochenergetischen Teilchen können nicht geschirmt werden. IdR werden diese Effekte auf Technologie oder Designebene einmal untersucht und anschliessend nur noch rechnerisch behandelt. Wenn du weisst, du hast eine Datenstörung statistisch alle xyz Jahre oder einen Bauteilausfall alle ZYX Jahre, dann muss das System damit umgehen durch irgendwelche Redundanzen.
Für Cubessats werden oftmals kommerzielle Bauteile verwendet, um Kosten zu sparen.
Die Tests für ein qualifiziertes Bauteil machen aus einem Wiederstand für ein paar Cents, ein Bauteil im 2-3 Stelligen Euro-Bereich. Ein einzelner SEE Test kostet leicht 100-500k Euro.
